“සංරචක අසාර්ථක විශ්ලේෂණ තාක්ෂණය සහ ප්‍රායෝගික නඩුව” අයදුම් විශ්ලේෂණ ජ්‍යෙෂ්ඨ සම්මන්ත්‍රණය පැවැත්වීම පිළිබඳ දැනුම්දීම
පස්වන ඉලෙක්ට්රොනික ආයතනය, කර්මාන්ත හා තොරතුරු තාක්ෂණ අමාත්‍යාංශය
ව්යවසාය සහ ආයතන:
ඉංජිනේරුවන්ට සහ කාර්මික ශිල්පීන්ට තාක්ෂණික දුෂ්කරතා සහ සංරචක අසාර්ථක විශ්ලේෂණ සහ PCB&PCBA අසාර්ථක විශ්ලේෂණයේ විසඳුම් කෙටිම කාලය තුළ ප්‍රගුණ කිරීමට උපකාර කිරීම සඳහා; පරීක්ෂණ ප්‍රතිඵලවල වලංගුභාවය සහ විශ්වසනීයත්වය සහතික කිරීම සඳහා අදාළ තාක්ෂණික මට්ටම ක්‍රමානුකූලව අවබෝධ කර ගැනීමට සහ වැඩිදියුණු කිරීමට ව්‍යවසායයේ අදාළ පුද්ගලයින්ට උපකාර කරන්න. කර්මාන්ත හා තොරතුරු තාක්ෂණ අමාත්‍යාංශයේ (MIIT) පස්වන ඉලෙක්ට්රොනික ආයතනය 2020 නොවැම්බර් මාසයේදී පිළිවෙළින් මාර්ගගතව සහ නොබැඳිව පැවැත්විණි:
1. "Component Failure Analysis Technology and Practical Cases" ඔන්ලයින් සහ නොබැඳි සමමුහුර්තකරණය යෙදුම් විශ්ලේෂණය ජ්‍යෙෂ්ඨ වැඩමුළුව.
2. ඉලෙක්ට්රොනික උපාංග PCB&PCBA විශ්වසනීයත්වය අසාර්ථක විශ්ලේෂණ තාක්ෂණික ප්‍රායෝගික සිද්ධි විශ්ලේෂණය මාර්ගගත සහ නොබැඳි සමමුහුර්තකරණය පැවැත්වීම.
3. පාරිසරික විශ්වසනීයත්ව අත්හදා බැලීම් සහ විශ්වාසනීය දර්ශක සත්‍යාපනය සහ විද්‍යුත් නිෂ්පාදන අසාර්ථකත්වය පිළිබඳ ගැඹුරු විශ්ලේෂණයේ මාර්ගගත සහ නොබැඳි සමමුහුර්තකරණය.
4. අපට පාඨමාලා සැලසුම් කිරීම සහ ව්යවසායන් සඳහා අභ්යන්තර පුහුණුව සංවිධානය කළ හැකිය.
පුහුණු අන්තර්ගතය:
1. අසාර්ථක විශ්ලේෂණය සඳහා හැඳින්වීම;
2. ඉලෙක්ට්රොනික උපාංගවල අසාර්ථක විශ්ලේෂණ තාක්ෂණය;
2.1 අසාර්ථක විශ්ලේෂණය සඳහා මූලික ක්රියා පටිපාටි
2.2 විනාශකාරී නොවන විශ්ලේෂණයේ මූලික මාර්ගය
2.3 අර්ධ විනාශකාරී විශ්ලේෂණයේ මූලික මාර්ගය
2.4 විනාශකාරී විශ්ලේෂණයේ මූලික මාර්ගය
2.5 අසාර්ථක විශ්ලේෂණ සිද්ධි විශ්ලේෂණයේ සමස්ත ක්‍රියාවලිය
2.6 අසාර්ථක භෞතික විද්‍යා තාක්ෂණය FA සිට PPA සහ CA දක්වා නිෂ්පාදන සඳහා යෙදිය යුතුය
3. පොදු අසාර්ථක විශ්ලේෂණ උපකරණ සහ කාර්යයන්;
4. ඉලෙක්ට්රොනික උපාංගවල ප්‍රධාන අසාර්ථක මාදිලි සහ ආවේනික අසාර්ථක යාන්ත්‍රණය;
5. ප්‍රධාන ඉලෙක්ට්රොනික උපාංගවල අසාර්ථක විශ්ලේෂණය, ද්‍රව්‍යමය දෝෂ පිළිබඳ සම්භාව්‍ය අවස්ථා (චිප් දෝෂ, ස්ඵටික දෝෂ, චිප් උදාසීන ස්තර දෝෂ, බන්ධන දෝෂ, ක්‍රියාවලි දෝෂ, චිප් බන්ධන දෝෂ, ආනයනික RF උපාංග - තාප ව්‍යුහ දෝෂ, විශේෂ දෝෂ, ආවේනික ව්‍යුහය, අභ්යන්තර ව්‍යුහ දෝෂ, ද්‍රව්‍යමය දෝෂ, ප්‍රතිරෝධය, ධාරිතාව, ප්‍රේරණය, diode, triode, MOS, IC, SCR, පරිපථ මොඩියුලය, ආදිය)
6. නිෂ්පාදන සැලසුම් කිරීමේදී අසාර්ථක භෞතික විද්‍යා තාක්ෂණය යෙදීම
6.1 නුසුදුසු පරිපථ නිර්මාණය නිසා ඇතිවන අසාර්ථක අවස්ථා
6.2 නුසුදුසු දිගු කාලීන සම්ප්‍රේෂණ ආරක්ෂාව නිසා ඇති වූ අසාර්ථක අවස්ථා
6.3 සංරචක අනිසි ලෙස භාවිතා කිරීම නිසා ඇතිවන අසාර්ථක අවස්ථා
6.4 එකලස් කිරීමේ ව්‍යුහයේ සහ ද්‍රව්‍යවල අනුකූලතා දෝෂ හේතුවෙන් ඇති වූ අසාර්ථක අවස්ථා
6.5 පාරිසරික අනුවර්තනය වීමේ අසාර්ථක අවස්ථා සහ මෙහෙවර පැතිකඩ සැලසුම් දෝෂ
6.6 නුසුදුසු ගැලපීම නිසා ඇති වූ අසාර්ථක අවස්ථා
6.7 නුසුදුසු ඉවසීමේ සැලසුම නිසා ඇති වූ අසාර්ථක අවස්ථා
6.8 සහජ යාන්ත්‍රණය සහ ආරක්ෂාවේ ආවේනික දුර්වලතාවය
6.9 සංරචක පරාමිති ව්යාප්තිය නිසා ඇති වූ අසාර්ථකත්වය
6.10 PCB සැලසුම් දෝෂ නිසා ඇති වූ අසාර්ථක අවස්ථා
6.11 සැලසුම් දෝෂ නිසා ඇතිවන අසාර්ථක අවස්ථා නිෂ්පාදනය කළ හැක
පසු කාලය: දෙසැම්බර්-03-2020